1、儀器校準(zhǔn)：

零位調(diào)整后，接著對(duì)儀器進(jìn)行量值校準(zhǔn)，校準(zhǔn)時(shí)校準(zhǔn)塊的幾何條件；觀測(cè)角α=0.2°；入射角β₁=0°β₂=0°。校準(zhǔn)步驟如下：

1.1將主機(jī)從底板(12)上移開(kāi),在底板(12)的試樣角度板(13)上放置校準(zhǔn)塊(15),其被測(cè)面前端應(yīng)與試樣角度板(13)的凸起邊靠齊；

1.2轉(zhuǎn)動(dòng)試樣角度板（13），使其刻線對(duì)準(zhǔn)底板（12）上的入射角刻度（14）上的0（即β₂=0°）；

    1.3將主機(jī)按2.2條的方法重新放置到底板（12）上；

    1.4調(diào)節(jié)觀測(cè)角調(diào)節(jié)器（1），至0.2°（即α=0.2°）；

1.5按下測(cè)量開(kāi)關(guān)（5），約預(yù)熱1－2分鐘后觀察數(shù)顯表（7）的讀數(shù)，待讀數(shù)穩(wěn)定后，即可讀出發(fā)光強(qiáng)度系數(shù)值 R。此值應(yīng)與校準(zhǔn)塊所給定的值相等。若不相等，則需調(diào)節(jié)校準(zhǔn)旋鈕（6），使顯示值等于校準(zhǔn)塊的給定值。此時(shí)儀器已校準(zhǔn)完畢，即可進(jìn)行測(cè)量。

隨著電子系統(tǒng)越來(lái)越朝著多功能、更高性能和更小封裝的趨勢(shì)發(fā)展，系統(tǒng)散熱問(wèn)題日漸成為設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)中必須考慮的因素。系統(tǒng)過(guò)熱會(huì)降低性能

，損壞元件或產(chǎn)生安全隱患。所以使用的時(shí)候要注意散熱，做好防御措施，防患于未然。